CITest

Descrição

O projeto CITest propõe desenvolver um sistema controlado para realizar o bring-up e teste de circuitos integrados (CIs), denominados de ASIC (Application Specific Integrated Circuit), como microcontroladores, decodificadores digitais, memórias, sensores digitais de temperatura, pressão e umidade, além de circuitos lógicos de uso geral. O sistema desenvolvido também contemplará a realização de excitação elétrica controlada e aquisição de medidas elétricas para fins de caracterização de CIs. Nesta proposta, utiliza-se uma plataforma microcontrolada e/ou baseada em FPGA (Field Programmable Gate Array) para implementar um sistema digital que irá gerar os padrões de teste para o CI a ser testado. Esta aplicação tem por objetivo realizar os testes de funcionamento e caracterização de um CI digital e/ou analógico, saído de uma fábrica (foundry), após o seu encapsulamento. A partir deste projeto, pretende-se implementar uma plataforma que possibilite realizar diferentes testes funcionais para um chip, através de escritas, leituras e verificação. Se tratando de circuitos digitais isto se dará através da inserção de vetores de teste usando as estruturas de cadeias de Scan Flip-Flops (Scan Chain) do chip a ser testado. No caso da caracterização de circuitos analógicos o objetivo será alcançado através da leitura das grandezas elétricas utilizadas na excitação do circuito e da interpretação da resposta dada pelo circuito à estas excitações.